【実施日時】

日時：11月1日(水)　13:00～17:00、11月2日（木） 10:00～16:45　定員：16名（先着順）
受講料：32,000円(税込) 　※神奈川県内企業割引あり

※10月31日までの期間設定でオンデマンドコースもあります

【受講対象】

ものづくりに携わる企業の方で、
≫製品の不具合対応に日々悩んでいる。（がどうしてよいか分からない）
≫不具合対応をその場しのぎとせず、品質向上の機会にしたい。
≫問題発生時の経験を社内で蓄積し、顧客からの信頼度アップにつなげたい。
≫新入社員の方や、品質管理を新たに担当することになった方など。

【講座の特徴】

〇1日目は長年分析に携わった講師が製品不具合の捉え方、不具合が起きた時の対処の仕方、社内の体質改善に必要な手順などを講義

〇2日目は装置で実際に分析に携わるKISTEC職員による解析事例の紹介、試料の取り扱い、不具合解析の勘所等を解説

〇実演装置：光学顕微鏡、走査電子顕微鏡(SEM)、フーリエ変換赤外分光光度計(FT-IR)、微小部蛍光Ｘ線分析装置(XRF)、走査型Ｘ線光電子分光分析装置(μ-XPS)

〇装置の実演は1グループ4名の少人数制

〇実演のない装置もラボツアーでご紹介

【応募方法】
KISTEC HPより、講義詳細・受講要項をご確認の上、お申し込みください。
https://www.kistec.jp/learn/researcher/fuguai-kaiseki/

• チラシダウンロード（1MB）

お申し込みはKISTECホームページから